新品速递：Zevision® IMC300沉积控制器，开启薄膜工艺新“净”界

还在为薄膜沉积工艺中的杂质烦恼？还在为生产效率低而焦虑？英福康新一代Zevision® IMC300沉积控制器，用砖利测量技术，实现非常好的重复性和晶体效率，为您开启薄膜工艺新“净”界！

砖利技术，精准控制

Zevision IMC300 采用了英福康独特的ModeLock™ 测量系统，测量分辨率是有源振荡器的10 倍，更有超卓的厚度精度和极低的速率噪声，可非常大限度地提高再现性和均匀性，进而延长可用晶体寿命。在某些情况下，其可将频率计数控制器的预期寿命延长两倍以上。

轻松集成，简便操作

通过向后兼容性、逻辑性，以及在单个工序中允许单个控制器同时运行多个源的可选功能，让英福康Zevision® IMC300 的系统集成快速而简单。

此外，Zevision IMC300 的操作也十分简便，触摸屏前面板，有着易于浏览的菜单和直观的配方构建功能。并且，由于其在所有命令和响应中只使用 ASCII 可打印字符和清晰的开始、停止字符，因此大大简化了软件的编写。新的串行通信协议还具有帮助命令，无需参考操作手册即可了解可用命令。

升级与维修，非常有保障

Zevision IMC300所有固件和硬件的更新与升级，均可在现场直接进行，简便高效。软件升级时的选件卡安装很简单，固件更新则可通过前面板 USB 端口进行，无需额外工具。

Zevision IMC300 有着长达数十年的使用寿命，同时，您可以放心的是，在可选的售后服务计划期限内，其维修都是免费的。标准保修期为2年，您也可根据自身需求选择4年或更长的售后服务计划。在仪器维修时，我们可为您提供借用设备，避免影响正常生产。

优势一览：

使用 ModeLock 测量系统，以极高的厚度精度、超卓的测量分辨率和极低的速率噪声，大限度地提高再现性和均匀性。

利用 ModeLock大限度地增加运行次数，同时降低晶体消耗成本。

通过向后兼容性、逻辑性以及可选功能，大限度地降低集成成本，提高集成速度。

通过英福康全球专家应用支持，大限度地降低开发风险，优化系统性能。